Elektromigrace defektů v polovodičích (CdZn)Te.

Abstract

V předložené práci je studován efekt elektromigrace defektů v materiálu (CdZn)Te ve vnějším elektrickém poli, při několika různých teplotách a proudech. Cílem práce bylo ověřit tento efekt pomocí několika elektrických kontaktů rozmístěných lineárně na vzorku. Tyto kontakty, zastávající funkci potenciálových sond, zaznamenávaly drift lokální modulace odporu. Snažili jsme se určit, za jakých podmínek a proč k němu dochází, a následně rozhodnout, jak je možné tohoto účinku využít k čištění polovodičových vzorků a pro přípravu vysoko odporového materiálu.

In the present work we study effect of electromigration of defects in CdTe material in external electric field at various temperatures and biases. The aim was to verify this effect using a set of electric contacts arranged linearly along the sample. These contacts as a potential probes was used for the detection of the drift of the local resistance modulation. We try to determine under what conditions and why it happens and then decide how this effect can be used for purification of semi-conducting samples and for preparation of semi-insulating material.