Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami

Nondestructive depth profiling of very thin metal layers by means of electron spectroscopic methods

Zobrazit/otevřít

Text práce (6.026Mb)

Abstrakt (149.3Kb)

Abstrakt (anglicky) (149.3Kb)

Posudek vedoucího (443.1Kb)

Posudek oponenta (292.7Kb)

Záznam o průběhu obhajoby (16.86Kb)

Trvalý odkaz

http://hdl.handle.net/20.500.11956/7550

Identifikátory

SIS: 44578

Kolekce

• Kvalifikační práce [11242]

Autor

Blumentrit, Petr

Vedoucí práce

Pavluch, Jiří

Oponent práce

Starý, Vladimír

Fakulta / součást

Matematicko-fyzikální fakulta

Obor

Fyzika povrchů a ionizovaných prostředí

Katedra / ústav / klinika

Katedra fyziky povrchů a plazmatu

Datum obhajoby

13. 9. 2006

Nakladatel

Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta

Jazyk

Čeština

Známka

Velmi dobře

Citace dokumentu