Studium tenkých vrstev metodou rentgenové reflexe

Study of thin films by means of x-ray reflectivity

View/Open

Text práce (3.751Mb)

Posudek vedoucího (70.99Kb)

Posudek oponenta (135.3Kb)

Záznam o průběhu obhajoby (15.25Kb)

Permanent link

http://hdl.handle.net/20.500.11956/17755

Identifiers

Study Information System: 47672

Collections

• Kvalifikační práce [11266]

Author

Endres, Jan

Advisor

Daniš, Stanislav

Referee

Holý, Václav

Faculty / Institute

Faculty of Mathematics and Physics

Discipline

General Physics

Department

Department of Condensed Matter Physics

Date of defense

16. 9. 2008

Publisher

Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta

Language

Czech

Grade

Excellent

Citace dokumentu