Studium vlastností heterostrukturních tenkých vrstev křemíku s nanometrovým rozlišením

Studium vlastností heterostrukturních tenkých vrstev křemíku s nanometrovým rozlišením

View/Open

Text práce (51.01Mb)

Abstrakt (38.86Kb)

Abstrakt (anglicky) (30.47Kb)

Posudek vedoucího (502.9Kb)

Posudek oponenta (118.1Kb)

Záznam o průběhu obhajoby (106.4Kb)

Permanent link

http://hdl.handle.net/20.500.11956/40438

Identifiers

Study Information System: 116503

Collections

• Kvalifikační práce [11266]

Author

Hakl, Michael

Advisor

Fejfar, Antonín

Referee

Ošťádal, Ivan

Faculty / Institute

Faculty of Mathematics and Physics

Discipline

General Physics

Department

Department of Condensed Matter Physics

Date of defense

19. 6. 2012

Publisher

Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta

Language

English

Grade

Excellent

Keywords (Czech)

silikonové tenké vrstvy, nanokrystaly, mikroskopie atomárních sil, fotovodivost

Keywords (English)

silicon thin films, nanocrystals, atomic force microscopy, photoconductivity

Citace dokumentu