Testování polovodičových detektorů pomocí svazku nabitých částic

Testing Semiconductor Detectors Using Beam of Charged Particles

View/Open

Text práce (866.3Kb)

Posudek vedoucího (223.2Kb)

Posudek oponenta (367.3Kb)

Záznam o průběhu obhajoby (138.9Kb)

Permanent link

http://hdl.handle.net/20.500.11956/6483

Identifiers

Study Information System: 42300

Collections

• Kvalifikační práce [11242]

Author

Scheirich, Daniel

Advisor

Kodyš, Peter

Referee

Davídek, Tomáš

Faculty / Institute

Faculty of Mathematics and Physics

Discipline

General Physics

Department

Institute of Particle and Nuclear Physics

Date of defense

27. 6. 2006

Publisher

Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta

Language

Czech

Grade

Excellent

Citace dokumentu