Studium tenkých vrstev metodou rentgenové reflexe

Study of thin films by means of x-ray reflectivity

Zobrazit/otevřít

Text práce (3.751Mb)

Posudek vedoucího (70.99Kb)

Posudek oponenta (135.3Kb)

Záznam o průběhu obhajoby (15.25Kb)

Trvalý odkaz

http://hdl.handle.net/20.500.11956/17755

Identifikátory

SIS: 47672

Kolekce

• Kvalifikační práce [11264]

Autor

Endres, Jan

Vedoucí práce

Daniš, Stanislav

Oponent práce

Holý, Václav

Fakulta / součást

Matematicko-fyzikální fakulta

Obor

Obecná fyzika

Katedra / ústav / klinika

Katedra fyziky kondenzovaných látek

Datum obhajoby

16. 9. 2008

Nakladatel

Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta

Jazyk

Čeština

Známka

Výborně

Citace dokumentu