Metoda radiometrické korekce smile efektu u hyperspektrálního skeneru

Abstract

Diplomová práce je zaměřena na odstranění spektrální vady senzoru. Vada je uváděna pod názvem spectral smile effect, neboli spektrální zakřivení. Běžně jsou tímto artefaktem postiženy hyperspektrální senzory, jejich snímání scény je založeno na konstrukci odpovídající stíracímu skeneru. Vada se v datech projevuje jako jasový gradient ve směru kolmém na let senzoru a ovlivňuje tvar spektrální charakteristiky objektu. Odstranění je důležité především v případě aplikace atmosférických korekcí, které jsou přítomností vady degradovány. Obsahem práce je popis současných metod využívaných k detekci a eliminaci vady. Blíže je pak práce zaměřena na metody odstranění vady na základě vlastních měřených dat bez využití kalibračních cílů. Je zkoumána citlivost metod na charakter snímané scény ve smyslu heterogennosti scény a dalších vnějších vlivů. Současně je jedna z metod podrobně zpracována s výsledkem zvýšení kvality metody pro odstranění vady.

The diploma theses focused on the topic of removing spectral aberration of sensor. The anomaly is being called spectral smile effect, or spectral curvature. Usually are with this artifact affected hyperspectral sensors, whose sensing is based on principle corresponding to pushbroom scanner. The defect occurs in the data as brightness gradient in the cross-track direction to the sensor flight and affects the object's spectral characteristics shape. Removing is important particularly in case of applying atmospheric correction algorithm, which are being degraded with presence of this defect. The work contents description of current methods used for detecting and eliminating this anomaly. The work is closer focused on the methods removing the defect based on own measured data without use of calibration targets. There is being examined sensitivity of the methods on the scene perception character, meaning heterogeneity of the scene and other outside influence. One of the methods is deeply processed resulting in increasing quality of the method for removing the defect.